韩国XRF-2000测厚仪控制精度使用操作

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  • 发布日期:2017-11-09 09:40
  • 有效期至:长期有效
  • 产品区域:江苏苏州市
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详细说明
 韩国XRF-2000测厚仪控制精度使用操作
韩国XRF-2000测厚仪的详细资料:
Micro Pioneer2000系列 X-RAY膜厚仪功能
测量电子电镀,五金电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
韩国先锋X-RAY膜厚仪器功能
韩国XRF-2000测厚仪全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围:0.04-35um
可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间:10-30秒
韩国XRF-2000测厚仪精度控制:
      第一层:±5%以内
      第二层:±8%以内
      第三层:±12%以内
了解更多关于韩国XRF-2000测厚仪详细信息,欢迎访问:
http://www.jc-yq.com/fhx2030-ParentList-333661/ 
http://www.gkzhan.com/st110680/list_333661.html
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