膜厚测试仪

膜厚测试仪* 技术指标型号：元素分析范围从铝（AL)到铀（U）。

* 一次可同时分析最多24个元素或五层以上镀层。

* 元素分析检出限可达2ppm，分析含量一般为2ppm到99.9％。镀层厚度最薄可达0.005um，一般在20um内（不同材料有所不同）。

* 小孔准直器（最小直径0.1mm），测试光斑在0.2mm以内。

* 高精度移动平台（定位精度小于0.005mm）。

* 任意多个可选择的分析和识别模型。

* 尺寸：450mm*450mm

* 重量：32 kg

* 标准配置开放式样品腔。

* 精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

* 双激光定位装置。

* 铅玻璃屏蔽罩。

* 最新半导体探测器。

* 信号检测电子电路。

* 高低压电源。

* X光管。

* 高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机。
膜厚测试仪是用来测量材料及物体厚度的仪器。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪器中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；有利用机械接触式测量原理的测厚仪；还有利用x射线荧光原来的x-ray膜厚测试仪。

联系人: 舒翠 

手机:   13602568074

电话:   0755-29371655 

传真:   0755-29371653 

邮箱:   sc@kinglinhk.net 

地址:   宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502